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半導(dǎo)體芯片測(cè)試?yán)渌畽C(jī)是一種用于半導(dǎo)體芯片測(cè)試過(guò)程中降低芯片溫度的設(shè)備，通常采用制冷劑或者水來(lái)降溫。這種設(shè)備可以幫助提高芯片測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性，同時(shí)也能夠保護(hù)芯片不受到過(guò)熱損壞的影響。
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